面對高密度PCB，針床測試技術(shù)也在不斷發(fā)展改進，主要體現(xiàn)在針床的密度提高，夾具設(shè)計制造技術(shù)的創(chuàng)新和優(yōu)化，輔助測試的引入，采用數(shù)據(jù)優(yōu)化技術(shù)，測試技術(shù)（開關(guān)卡）技術(shù)的完善。
　　(1)針床密度提高。
　　一般的針床探針的中心距為2540ym，稱單密度針床。隨著測試點數(shù)的增加和測試密度的提高，已有許多廠家推出雙密度針床，探針的中心距為17781im。現(xiàn)在，也有廠家在研制四密度測試設(shè)備，雖然在一定程度上可以解決測試點數(shù)問題，但精度的問題依然存在。
　　(2)夾具設(shè)計制造技術(shù)的革新。
　　作為測試精度的主要影響因素，夾具的設(shè)計制造極為關(guān)鍵。在許多成功地進行了高密度測試的針床測試設(shè)備中．夾具設(shè)計多都有獨到之處。例如，ECT的夾具設(shè)計軟件，仔細考慮了測試探針的傾斜度、摩擦力等問題，使制作出的夾具與探針中心正對測試點，保證了精度與設(shè)計一致，在探針較少的區(qū)域，夾具在X.Y，和Z三個方向受力均衡，不產(chǎn)生彎曲變形而造成偏差，自動對準(zhǔn)系統(tǒng)還可以檢測和補償定位孔與外層圖形間的偏差，在夾具材料的選擇上，使用模塊化、受溫濕度影響小的材料，確保證尺寸精確、穩(wěn)定。
　　(3)導(dǎo)電橡膠模塊的引入。
　　有些針床測試設(shè)備中，對于某些極為精細的部分，如TAB，倒裝芯片，yBGA或QFP等，測試點中心距在O.lmm左右，用探針測試定位困難。采用導(dǎo)電橡膠模塊進行局部測試，可以克服針床測試的不足，這個模塊通過氣動導(dǎo)管與夾具相連，由相應(yīng)的夾具設(shè)計軟件自動控制定位，若多個區(qū)域需要用到這個模塊，模塊可多次采用。但導(dǎo)電橡膠模塊將所覆蓋區(qū)域的所有測試點短連，被測器件內(nèi)部的短路無法測出，僅用于測試被測區(qū)域與外界的連通性，若要測試內(nèi)部短路，必須將這些網(wǎng)選出，采用其他的方法（如移動探針）測試。
　　(4)開關(guān)卡技術(shù)的改進。
　　為適應(yīng)測試準(zhǔn)確性的要求，開關(guān)卡要求能耐高壓，在“關(guān)”的狀態(tài)下無泄漏，在“開”的狀態(tài)下電阻能得到補償，保證測試準(zhǔn)確牲，開關(guān)卡本身采用SMT封裝，占用體積小，并有ESD（靜電放電保護）。
　　針床測試技術(shù)由于本身原理及方法限制，雖然面臨嚴(yán)峻的技術(shù)挑戰(zhàn)，但某些方面（如效率等）仍然具有其他方法所沒有的優(yōu)勢，加上夾具技術(shù)的改進和新技術(shù)的配合使用，它在測試領(lǐng)域還具有較強的生命力。